本刊訊（記者  王崇民）10月13日，由中國分析測試協會主辦的第十七屆北京分析測試學術報告會暨展覽會（BCEIA 2017）在北京國家會議中心落下帷幕。BCEIA 2017學術報告會、展覽會取得雙豐收。展會期間，科技部黃衛副部長、原科技部副部長大會主席程津培院士和科技部有關司局長等領導共分5批到場參觀指導，給予展會高度評價和贊揚！
    BCEIA 2017在參展廠商及展位數量上再創新高，展會占地面積26000平方米，設標準展位1100個，共有500家展商參展，其中境內展商340家，境外展商160家，展示了3000臺國際（國內）技術領先的新儀器、新設備。本屆實名登記專業人員25547人（不包含展商工作人員），參會學者、觀眾及展商工作人員達到66370人次。
    本屆學術報告會設有大會報告、分會報告、熱點論壇、墻報、同期會議等400多場形式多樣的學術報告。會議邀請了多名國際著名學者在分析測試領域內就當前熱點研究與應用做專題講演，同時分別舉行了10個領域的分會報告。展會同期，還有眾多當前的熱點論壇和同期會議、論文報展與報告會同時舉行，促進了分析測試國際學術交流，增進了各國科學家的友好往來。